Ваш город
Москва
Ваш город Москва?
+7 928 117-10-37
Отдел продаж
Режим работы:
Пн-Сб 10:00—18:00;
Вс выходной
КАТАЛОГ ТОВАРОВ
0КорзинаПусто0 руб.
Товары в корзине
корзина пуста
КАТАЛОГ ТОВАРОВ
Корзина пуста0 руб.0
Товары в корзине
корзина пуста
Корзина пуста0 руб.0
Товары в корзине
корзина пуста

Валидация на системном уровне. Высоуровневое моделирование и управление тестированием

Поделиться
Скидка!
Валидация на системном уровне. Высоуровневое моделирование и управление тестированием
В этой книге описываются методы высокоуровневого моделирования и валидации комплексных систем аппаратных средств и программного обеспечения, включая архитектуры с многоядерными процессорами...
Характеристики
Автор(ы):
М. Чен, К. Квин, Х.-М. Ку, П. Мишра
Издательство:
Техносфера
Год издания:
2014
Кол-во страниц:
296
Переплёт:
Твердый
Смотреть все
Получение информации о методах доставки
Артикул: 15414
Осталась 1 штука
4,37балла
?
Количество бонусов которые вы получите при покупке данного товара
437
625
- 30%
Экономия 188
Количество:
Описание

В этой книге описываются методы высокоуровневого моделирования и валидации комплексных систем аппаратных средств и программного обеспечения, включая архитектуры с многоядерными процессорами. Читатели узнают, как избежать затрат времени и ошибок при всесторонней системной валидации, в том числе при моделировании систем и их отказов, а также об автоматической генерации специализированных тестов и эффективных методиках валидации с использованием подобных тестов и подтверждения работоспособности систем. Методологии, описанные в этой книге, помогут разработчикам улучшить качество валидации благодаря выполнению тестов на ранних стадиях проектирования при одновременном снижении стоимости этих процессов и усилий, направленных на валидацию систем в целом.
Эта книга предназначена для студентов старших курсов, аспирантов, исследователей, разработчиков инструментов САПР, проектировщиков и менеджеров, заинтересованных в развитии эффективных инструментов и методов проектирования и валидации на системном уровне, генерации направленных тестов и функциональной валидации гетерогенных конструкций СнК.

Характеристики
Автор(ы)
М. Чен, К. Квин, Х.-М. Ку, П. Мишра
Переводчик
А. Н. Ланцев
Издательство
Техносфера
Серия
Мир радиоэлектроники
Год издания
2014
ISBN
978-5-94836-365-3
Кол-во страниц
296
Формат страниц
70x100/16 (170x240 мм)
Язык
Русский
Переплёт
Твердый
Доп. сведения
Офсетная бумага
Тираж
750 экз.
Вес
560 г
Отзывы

Loading...
Помощь
+7 928 117-10-37
Отдел продаж
Если у вас возникли вопросы при оформлении заказа, обратитесь по указанным контактам.
Мы используем файлы cookie, чтобы сайт был лучше для вас.